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一文搞懂試驗探針的使用方法及其注意事項
更新時間：2022-09-29 點擊次數(shù)：1215
1、標準試驗指的關(guān)節(jié)部分不能觸及帶電部件或不能接近危險部件，并且35mm的圓擋板不能進入。
2、防止接近危險部件的試驗要求中，C、D型試驗探棒需帶3±0.3NN或1±0.1N推力。
注意：不帶推力產(chǎn)品請配合推拉力計使用。
試驗探針的使用注意事項：
(1)請不要輕易調(diào)整推力，如需調(diào)整，請使用分辨至少為0.033N儀器對C、D型試驗探棒進行校準。
(2)由于試驗探棒較為精密機械產(chǎn)品，使用時請輕拿輕放，妥善保管。
(3)試驗探棒頂部可能會生銹，注意保養(yǎng)防護。
試驗探針根據(jù)電子測試用途可分為：
1、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進口產(chǎn)品；
2、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進口探針產(chǎn)品；
3、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。
探針根據(jù)主要類型可以分為：懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針：劈刀型(BladeType)和環(huán)氧樹脂型(EpoxyType)
垂直探針：垂直型(VerticalType)
